Defect's repartition

La réponse est non, et pour une bonne raison : c′est vraiment très compliqué.

A la lumière de la méthode FIDES on peut comprendre que la répartition des modes de panne (par exemple entre court-circuit et circuit ouvert) est forcément fonction du profil de vie. Donc différente dans chaque cas d′application. C′est évident mais presque jamais compris !

Par exemple, si un mécanisme de défaillance qui provoque des courts-circuits est très accéléré dans le profil de vie, il y aura beaucoup de court-circuit...

Et encore faut il avoir bien défini ce qu′était un "court-circuit" (ce qui n′est pas le cas du RDF2000)... pour certains composant, avoir une résistance de quelques kOhms est déjà un court-circuit.

En conséquence il ne faudrait pas employer les répartitions du RDF 2000 dans un cas automobile (par example) sans précautions.

Donc: pas de mode de panne dans FIDES. Ça viendra peut être dans le futur...

The answer is no, and for a good reason: it′s realy complicated.

In the light of FIDES method, it is possible to understand that the failure mode distribution (for example between short circuit and open circuit) is bound to life profile. So it is different for each application. This is obvious but rarely understood.

For example, if a failure mechanism that leads to short circuits is much accelerated in the life profile, there will be a lot of short circuit...

Furthermore, it is required to well define what is a "short circuit" (not the case in RDF200)... for some component, to have a resistance of some kOhm is already a short-circuit.

Consequently the distributions in RDF 2000 shall not be used in an automotive (for example) case without precautions.

So: no failure mode in FIDES. It might perhaps comes in the future...