European Symposium Reliability on Electron devices, Failure physics and analysis (ESREF) - Vendredi, 18 Janvier, 2008
Contenu de la Nouvelle:
8 - 12 Octobre , 2007 (Arcachon, France): management de la qualité et de la fiabilité des matériels, périphériques, et circuits pour micro-, nano-, et optoélectroniques.