MTBF d'ensemble

Bonjour,

Tout dépend de votre besoin, si vous recherchez effectivement un MTBF (à comprendre ici selon le sens "temps entre chaque panne", qui est déjà une utilisation incorrecte du terme MTBF), alors oui il vous suffit d'additionner les taux de défaillance (puis d'inverser cette somme pour obtenir un MTBF).

Attention, ceci n'est valable que dans l'hypothèse ou vos cartes suivent une loi de défaillance selon une distribution exponentielle, donc pas de phénomène de vieillissement des composants électroniques et vous n'avez aucune panne de jeunesse. Qui sont tout de même des hypothèses fortes à vérifier et difficile à mettre en place dans un contexte industriel.

Par contre si vous recherchez le temps entre deux pannes qui affectent votre équipement composé des deux cartes électroniques, alors il faut vous demander si les cartes sont en séries ou en redondances et appliquer la formule adéquate (les approches GM ou LSAR sont souvent les plus courantes dans l'industrie). Si vous êtes dans ce cas, je vous recommande également de réaliser des AMDEC sur vos cartes électroniques afin d'ajuster convenablement les taux de défaillance des parties en série et de celles en redondance. On parle souvent de MTBCF (ou de MTBAF, mais là la notion de "attributed" est moins normée et peut varier en fonction du systémier ou de l'autorité de certification).

Le point d'attention précédent reste applicable, auquel il faut ajouter les considérations sur les modes communs et les causes communes (obligatoire en aéronautique si l'équipement contribu à la sécurité i.e. FC hazardous ou catstrophic, fortement recommandé dans les autres secteurs d'activité industriel). La méthodologie par arbre de défaillance est souvent une bonne approche pour traiter ce problème, voire des considérations dynamiques pour le cas des redondances froides ou reconfigurations internes.

J'espère avoir répondu à votre question.

Bonne journée.

Cordialement,

Thibault